光学连接器测试解决方案，无源组件/连接器测试解决方案(PCT)由功能强大的核心测量模块（适用于单模和多模）、软件和应用程序框架，和针对MPO和多纤芯测试进行的配置，以及关键的外围设备和配件组成，可测试光连接产品的插入损耗、回波损耗、物理长度以及极性。利用 MAP-200 平台的模块化和互连性，PCT 可用于 研发、生产或鉴定试验场合，并支持处理从单模到 OM1 和 OM4 的所有主要光纤类型的测试问题。 拥有适用于单模和多模光纤的光学器件与连接器测试模块，软件和应用程序框架，针对MPO和多纤芯测试进行配置，关键外围设备和配件。可以提高4倍的生产效率，更小的体积，可扩展到新的高速增长、高性能应用中，例如40G/100G/200G/400G/800G数据中心视场，模块化平台可在需求增长和预算允许的情况下进行扩展，端口映射可在15秒内验证多纤芯MPO模块盒的连通性盒极性，完全支持高速增长的MPO盒MTP多纤芯连接器。
主要特点
▪ 生产效率提高4倍
▪ 与其他解决方案相比只需要25%空间
▪ 可扩展到新的高速增长、高性能应用中，如40G/100G/200G/400G/800G数据中心市场
▪ 模块化平台可在需求增长和预算允许的情况下进行扩展
▪ 端口映射可以在15秒内验证多纤芯MPO模块盒的连接器性能和极性
▪ 端口映射支持双向插损、回损测试
▪ 完全支持高速增长的MPO和MTP多纤芯连接器
主要应用
▪ 测试光连接器和线缆组件，包括光分路器的IL/RL和长度
▪ 结构化光缆布线解决方案
▪ 自动化测试多纤芯组件，例如 MPO
▪ 单模和多模光纤的设备解决方案
▪ 验证大型多纤芯组件的连续性和极性
▪ 测量线路板卡和插拔式转换器件的 RL
参数指标
参数
| 指标
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| 单模插回损模块
| 多模插回损模块
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工作波长
| 1310/1490/1550/1625nm
| 850/1300nm
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光纤类型
| SM（9/125）
| MM（50/125 or62.5/125）
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测量时间
| 初始化时间＜4s，各波长的平均测试时间2/5/10s
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插入损耗显示分辨率
| 0.001dB
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插入损耗不确定性
| ±0.02dB
| ±0.05dB
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插入损耗其他不确定性（由于1xN切换而造成）
| ±0.01dB
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回波损耗显示分辨率
| 0.01dB
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回损范围
| 单模：-30 ~ 80 dB / 多模：-15 ~70 dB
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回波损耗DUT长度＜40dB（多模30dB）
| ＞170cm
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回波损耗DUT长度＞40dB（多模30dB）
| ＞70cm
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回波损耗重复性
| ±0.1 dB（–30 至 65 dB）
±0.2 dB（–65 至 70 dB）
±0.4 dB（–70 至 75 dB）
±1.5 dB（–75 至 80 dB）
| ±0.2 dB(±0.2 dB)
±0.5 dB(±0.5 dB)
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回波损耗精度
| ±1.0dB（–30 至 70 dB）
±1.7 dB（–70 至 75 dB）
±3.0 dB（–75 至 80 dB）
| ±1.8 dB（–15 至 20 dB）
±1.3 dB（–20 至 60 dB）
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