产品简介
C8000-30D是在不使用闪烁体的情况下直接在CCD中照射EUV和软X射线光子的结构。 通过照射高能光子，许多电子产生到CCD中，因此实现了高灵敏度检测。背照式CCD覆盖20 eV至10 keV的能量范围。
主要应用
▪ X射线显微术
▪ X射线光谱学
▪ 微型CT
▪ 极紫外光刻
▪ X射线能量分析
图像示例
参数指标
参数
| 指标
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型号
| C8000-30D
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有效像元数
| 640（H）×480（V）
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像元尺寸
| 14μm（H）×14μm（V）
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有效面积
| 8.96mm（H）×6.72mm（V）
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满阱容量
| 30000 electrons
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读出速度
| 31.4 frames/s
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读出噪声
| 100 electrons(typ.)
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冷却温度
| +5℃（Ambient
temperature:+20℃）
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A/D转换器
| 12 bit
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